КАРТА САЙТА
Sibnet.ru
Sibnet.ru

Sibnet.ru — это информационно-развлекательный интернет-проект, ориентированный на широкий круг Сибирского региона.
По данным Rambler Top100, Sibnet.ru является самым популярным порталом в Сибири.

Контакты:
АО "Ринет"
ОГРН 1025402475856
г. Новосибирск, ул. Якушева, д. 37, 3 этаж
отдел рекламы:
(383) 347-10-50, 347-06-78, 347-22-11, 347-03-97

Редакция: (383) 347-86-84

Техподдержка:
help.sibnet.ru
Авторизируйтесь,
чтобы продолжить
Некоторые функции доступны только зарегистрированным пользователям
Неправильный логин или пароль




  sitecpro

 личные данные


друзья:


19.07.2017
 
18:06 Сканирующие зондовые микроскопы, дефектоскопия, спектральное оборудование
Запись открыта: всем
Теги: медицина , нано , строительство , Модели , нанотехнологическое общество , нанотехнологии , наночастицы , наноматериалы , микроэлектроника , фотоника , наноструктуры , нанопорошки , приборостроение , моделирование , нанотекстиль , текстиль , нанотехнологические , наноструктурированные , модификаторы , наномодификаторы , нанобезопасность , наноинженерия , нефтедобыча , прогнозирование , наноиндустрия , нанотрубки , фуллерены , графен
В основе зондовой нанотехнологии лежат уникальные приборы с зондом — сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и атомно­-силовой микроскоп (ACM).

Зондовая нанотехнология представляет собой совокупность методов и спо­собов обработки и изменения свойств материала на уровне отдельных атомов, молекул и эле­ментов нанометровых размеров с помощью острийного зонда с одновременной визуализацией и контролем процесса.

В сканирующем туннельном микроскопе зонд представляет собой металлический игольчатый электрод с очень тонким острием, за­крепленный на трехкоординатном сканере. Зонд-острие, находя­щийся под электрическим потенциалом, располагается перпендикулярно поверх­ности на таком расстоянии от нее, при котором возникает туннельный ток. Тун­нельный ток зависит от величины зазора между острием и поверхностью, а также от величины электрического потенциала на зонде. Если с помощью цепи обратной связи при сканировании поверхности под­держивать постоянным туннельный ток, то можно получить информацию о релье­фе исследуемой поверхности.

Приборостроение для нанотехнологий. Широкий спектр сканирующих зондовых микроскопов для научных исследований — «СИТЭК».

Прогресс в зондовой микроскопии и нанотехнологии напрямую связан с усложнением и интеллектуализацией зондовых инструментов.

Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением. За последние 10 лет сканирующая зондовая микроскопия превратилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному числу исследовательских групп, в широко распространенный и успешно применяемый инструмент для исследования свойств поверхности. В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без применения методов СЗМ. Развитие сканирующей зондовой микроскопии послужило также основой для развития новых методов в нанотехнологии — технологии создания структур с нанометровыми масштабами.

[ комментарии (0) ] [ комментировать ]


Страницы: 1
Редакция: (383) 347-86-84

Техподдержка:
help.sibnet.ru
Размещение рекламы:
тел: (383) 347-06-78, 347-10-50

Правила использования материалов
Наши вакансии

О проекте
Пользовательское соглашение
Политика конфиденциальности