друзья:
|
|
19.07.2017 |
|
18:06 Сканирующие зондовые микроскопы, дефектоскопия, спектральное оборудование |
Запись открыта: всем |
Теги:
медицина
, нано
, строительство
, Модели
, нанотехнологическое общество
, нанотехнологии
, наночастицы
, наноматериалы
, микроэлектроника
, фотоника
, наноструктуры
, нанопорошки
, приборостроение
, моделирование
, нанотекстиль
, текстиль
, нанотехнологические
, наноструктурированные
, модификаторы
, наномодификаторы
, нанобезопасность
, наноинженерия
, нефтедобыча
, прогнозирование
, наноиндустрия
, нанотрубки
, фуллерены
, графен
|
В основе зондовой нанотехнологии лежат уникальные приборы с зондом — сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и атомно-силовой микроскоп (ACM).
Зондовая нанотехнология представляет собой совокупность методов и способов обработки и изменения свойств материала на уровне отдельных атомов, молекул и элементов нанометровых размеров с помощью острийного зонда с одновременной визуализацией и контролем процесса.
В сканирующем туннельном микроскопе зонд представляет собой металлический игольчатый электрод с очень тонким острием, закрепленный на трехкоординатном сканере. Зонд-острие, находящийся под электрическим потенциалом, располагается перпендикулярно поверхности на таком расстоянии от нее, при котором возникает туннельный ток. Туннельный ток зависит от величины зазора между острием и поверхностью, а также от величины электрического потенциала на зонде. Если с помощью цепи обратной связи при сканировании поверхности поддерживать постоянным туннельный ток, то можно получить информацию о рельефе исследуемой поверхности.
Приборостроение для нанотехнологий. Широкий спектр сканирующих зондовых микроскопов для научных исследований — «СИТЭК».
Прогресс в зондовой микроскопии и нанотехнологии напрямую связан с усложнением и интеллектуализацией зондовых инструментов.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением. За последние 10 лет сканирующая зондовая микроскопия превратилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному числу исследовательских групп, в широко распространенный и успешно применяемый инструмент для исследования свойств поверхности. В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без применения методов СЗМ. Развитие сканирующей зондовой микроскопии послужило также основой для развития новых методов в нанотехнологии — технологии создания структур с нанометровыми масштабами.
|
|
[ комментарии (0) ]
[ комментировать ]
|
|
|